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          • 工业检测

            XJ-58C科研级明暗场正置金相显微镜配有电动调焦的载物台、落射照明器、无限远明暗场长距平场物镜和大视野目镜的顶级配置。具有外形厚实,图像清晰度高、操作方便等特点,同时配有暗场装置及偏光装置,可实现暗场和偏光观察,是一款多功能工业检测显微镜。适用于薄片试样的金相、矿相、晶体、硅片、电路基板、FPD等结构分析和研究,或用于观察材料表面特性,如:划痕、裂纹、喷涂的均匀性等分析研究。是金属学、矿物学、精密工程学、电子学、半导体工业、硅片制造业、电子信息产业等观察研究的理想仪器。

            2016-04-25 来自: 金相显微镜 所属专题: 工业检测